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LANANtek M系列探针台
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主要特点
●可选配高温测试环境
●可选直筒显微镜，体式显微镜或金相显微镜
●载物台可Z轴升降
●载物台Theta可粗调360°，微调±7°
●载物台XY移动分辨率为1um
●可选配高压高流测试环境
●快速装片并可任意位置锁定功能
●稳定型显微镜桥架，移动分辨率为2um，显微镜气动升降
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选配附件
●射频测试探头及电缆
●低漏电电流/电容测试
●激光修复
●探针卡/封装/PCB 板夹具
●有源探头
●高压高流模块
●高清数字相机
●Hot Chuck
●载物台水平调节机构
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应用领域
●Failure analysis 集成电路失效分析
●Wafer level reliability 晶元可靠性认证
●Device characterization 元器件特性量测
●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成监控
●Package part probing IC封装阶段打线品质测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing 微波量测(高频测试)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED、OLED、LCD领域检测分析
●PCB领域检测分析
●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试
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兼容测试仪器
●各种型号示波器
●各品牌半导体参数分析仪，博测，是德，泰克，概伦等
●各种品牌的网络分析仪，是德，罗德施瓦茨，思仪等
●各种品牌型号的源表
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