聚焦离子束和扫描电子显微镜 – FIB-SEM
蔡司 Crossbeam 将场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）镜筒的强大成像和分析性能与新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力相结合。无论是切割、成像或进行 3D 分析，Crossbeam 系列都能极大地提升您的应用体验。使用 Gemini 电子光学系统，您可以从扫描电子显微镜（SEM）图像中获取真实的样品信息。Ion-sculptor FIB 镜筒引入了全新的 FIB 加工方法，能够减少样品损伤，提升样品质量，从而加快实验进程。
型号：Crossbeam 350 /550
发布时间：2025-08-23
