技术文章-似空科学仪器（上海）有限公司

技术文章

当前位置：主页 > 技术文章

芯片失效分析基本流程和关键设备在半导体产业中，芯片失效分析是一项至关重要的工作。当芯片发生功能失效或可靠性问题时，失效分析工程师需要通过一系列技术手段，定位失效位置、查明失效机理，最终为设计改进和工艺优化提供依据。本文将系统介绍芯片失效分析的基本流程，并介绍分析过程使用的国际主流设备。

20264-8
无目镜体视显微镜助力脑机接口技术无目镜体视显微镜

20263-28
独特光学技术，质量控制卫士在精密制造领域，每一件合格产品的背后，都离不开严苛的质量控制。当人眼无法企及微小细节的缺陷时，独特的光学技术便成为了捍卫品质、守护质量的“火眼金睛”。

20263-22
使用Lynx EVO 助力提升航空检测航空公司面临诸多运营挑战，其中发动机相关问题直接影响航班可靠性，这使得有效的发动机健康监测变得尤为关键。

20263-7
半导体领域离子技术应用设备解析在半导体制造与检测环节，离子技术凭借高精度、非接触性及可控性优势，成为支撑先进制程的核心力量。以下介绍六类典型离子技术设备：

20263-1
无目镜光学技术助力种子研究种子是植物多样性保护和农业可持续发展的关键资源。随着全球生物多样性丧失速度加快，以及农业对高质量种子需求的提升，种子保存与研究的重要性日益凸显。

20262-24
SWIFT PRO EDGE 专为汽车车灯检测校准意大利一级汽车供应商马瑞利需要一套可靠的测量解决方案，以支持其尾灯总成所用塑料部件的生产线。Vision Engineering 与 DOGA Maroc 合作，为 Swift PRO Edge 系统提供了现场校准与支持。DOGA Maroc 是一家在当地拥有汽车系统和工业集成技术专长的合作伙伴。该系统安装在丹吉尔汽车城内的一个基地，该城市是北非汽车行业具有重要战略意义的枢纽。

20262-9
无目镜光学显微镜应用于芯片治具检测随着AI数据中心的规模化建设，GPU和高带宽内存（HBM）等高性能芯片的需求呈爆发式增长。芯片的可靠性与性能直接关系到数据中心算力与稳定性，而芯片治具作为芯片制造与质检中的关键辅助工具，其精度与可靠性尤为关键。

20262-2
可焊性标准的差异 - IPC与MIL从表面上看，“可焊性标准”似乎只是几份文档或几套流程的差异；但在工程实践里，MIL 与 IPC 之间的那点不同，背后是一整套对风险、成本和责任边界完全不同的价值观。要理解为什么 MIL 的要求往往显得更严格、更谨慎，就必须先看清这两套标准各自是为谁服务、在什么场景下被执行。

202512-16
在实际应用中，如何根据不同半导体工艺节点选择Infratec的合适型号？为不同半导体工艺节点选择Infratec设备，关键在于匹配缺陷的物理尺度、热信号强度以及分析的深度要求。下面这个表格汇总了针对不同工艺节点的核心考量与推荐型号，你可以快速了解其对应关系。

202512-12
锁相热成像技术（Lock-in Thermography, LIT）与其他无损检测方法的详细对比分析无损检测技术是现代工业高质量发展的基石，而在这一精密领域，德国Infratec公司凭借其先进的红外热成像与探测技术，在半导体制造、工业安全等多个高端领域开辟了独特的应用前景。本文将深入探讨Infratec不同型号红外摄像头和探测器的技术特点，并结合实际案例展示其在各行业中的创新应用。

202512-11
Lit技术与EMMI、OBRICH在半导体检测中的具体差异LIT（锁相热成像）、EMMI（微光显微镜）和OBIRCH（光学束诱导电阻变化）三种技术在半导体失效分析中的核心差异对比，结合技术原理、检测能力与应用场景进行系统解析：

202512-6
Infratec选型推荐针对不同规模半导体企业和科研机构，Infratec红外检测设备的选型推荐方案，结合技术特性、应用场景及成本效益进行系统分析

202512-1
Infratec红外技术LIT技术在具体半导体失效分析案例中的诊断流程LIT技术通过周期性激励-锁相提取-相位深度分析的三步流程，解决了高端芯片中微弱热缺陷的定位难题。

202512-1
Innolot 焊料：高温高可靠的无铅焊料电子制造业自2000年代以来经历了从含铅焊料向无铅焊料的重大转变。传统的锡铅焊料（Sn-37Pb）具有良好的润湿性和可靠性，尤其在高温下性能稳定，但由于铅的毒性和环保法规（如RoHS指令）的限制，被迫逐步淘汰。无铅焊料以锡基合金（常见为Sn-Ag-Cu三元合金，简称SAC）取代锡铅焊料，最常用的如SAC305（Sn-3.0Ag-0.5Cu）或SAC405等。

20259-28

共 164 个每页 15 个首页上一页 1 2 3 4 5... 下一页尾页第 2 页